应微电子学院的邀请，2008年3月11日英飞凌科技公司德国专家Kock Ernst 博士来我校讲学访问，并为微电子学院师生做了题为“SoC Verification Methodologies”的学术报告。报告全面介绍了最新片上系统检定方法的进展及应用，受到师生们的好评。报告会后Kock Ernst 博士耐心细致地回答了同学们的提问，并向提问的学生赠送相关专业书籍。

    Kock Ernst 博士，1979年毕业于德国科隆大学固体物理学专业, 获博士学位。1977年至1979年，Kock Ernst 博士在科隆大学担任助理教授；之后，加入西门子公司，并在数据处理部门工作。在进入西门子公司半导体部工作(该部门现在已被并入英飞凌公司)之前，Kock Ernst博士一直从事IBM兼容机的研究工作，主要设计和开发记忆系统，多极高速缓冲存储器以及多处理机配置等。1995年，Kock Ernst 博士进入西门子公司半导体部工作，主要从事微控制器的开发工作，特别是32位微控制器的研发。目前，他主要负责对慕尼黑微控制器部门所开发的微控制器进行检定以及对英飞凌公司微控制器部门片上系统检定方法的提出和优化。

                                                            （微电子学院、国际合作与交流处）